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五步走流程高低温冲击试验箱 |
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| 时间：2013-12-28 |
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高低温冲击试验箱用于电子电器零部件﹑自动化零部件、半成品﹑金属、化学材料、通讯元件、国防工业、航太、兵工业、bga、pcb基扳电子晶片,测试其在瞬间经高温、低温的连续温度变化环境下所能忍受的程度，试验其在急遽变化的温差条件下热胀冷缩所引起的化学变化和物理伤害。
高低温冲击试验箱操作分为五部走：预处理、初始检测、试验、恢复、最后检测。下面小编为大家先容一下详细流程内容：
1.预处理：将被测样品放置在正常的试验大气条件下，直至达到温度稳定。
2.初始检测：将被测样品与标准要求对照，符合要求后直接放入高低温冲击试验箱内即可。
3.试验：①试验样品应按标准要求放置在试验箱内,并将试验箱（室）内温度升到指定点，保持一定的时间至试验样品达到温度稳定，以时间长都为准。②高温阶段结束后，在5min内将试验样品转换到已调节到-55℃的低温试验箱（室）内，保持1h或者直至试验样品达到温度稳定，以时间长都为准。③低温阶段结束后，在5min内将试验样品转换到已调节到70℃的高温试验箱（室）内，保持1h或者直至试验样品达到温度稳定，以时间长都为准。④重复上述实验方法,以完成三个循环周期。根据样件大小与空间大小，时间可能会略有误差。
4. 恢复：试验样品从试验箱内取出后，应在正常的试验大气条件下进行恢复，直至试验样品达到温度稳定。
5.最后检测：对照标准中的受损程度及其它方法进行检测结果评定。
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